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J-GLOBAL ID:200903038621275316
アクティブマトリクス型表示装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000249149
Publication number (International publication number):2001127306
Application date: Nov. 26, 1994
Publication date: May. 11, 2001
Summary:
【要約】【目的】 信頼性の高いアクティブマトリクス型表示装置を提供する。【構成】 ガラス基板の上に形成された窒化珪素膜と、前記窒化珪素膜の上方に形成された活性層と、ゲート絶縁膜を介して前記活性層の上に形成されたゲート電極と、前記活性層に接続されたソース電極と、前記ソース電極の上に形成された窒化珪素膜と、前記ソース電極の上に形成された窒化珪素膜の上に形成され、前記活性層に接続された画素電極と、を有することを特徴とする。
Claim (excerpt):
ガラス基板の上に形成された窒化珪素膜と、前記窒化珪素膜の上方に形成された活性層と、ゲート絶縁膜を介して前記活性層の上に形成されたゲート電極と、前記活性層に接続されたソース電極と、前記ソース電極の上に形成された窒化珪素膜と、前記ソース電極の上に形成された窒化珪素膜の上に形成され、前記活性層に接続された画素電極と、を有することを特徴とするアクティブマトリクス型表示装置。
IPC (5):
H01L 29/786
, G02F 1/1368
, G09F 9/30 338
, H01L 21/20
, H01L 21/336
FI (5):
G09F 9/30 338
, H01L 21/20
, H01L 29/78 619 A
, G02F 1/136 500
, H01L 29/78 627 G
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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半導体装置の作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-315475
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所, シャープ株式会社
-
薄膜トランジスタおよびその作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-078999
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
-
特開平3-293726
-
特開平2-185030
-
半導体作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-275416
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
-
特開昭60-053027
-
薄膜状半導体装置およびその作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-186891
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
-
半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-358559
Applicant:キヤノン株式会社
-
特開平2-187025
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