Pat
J-GLOBAL ID:200903039615688656
半導体製造工場の廃液処理装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
春日 讓
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998361386
Publication number (International publication number):2000176457
Application date: Dec. 18, 1998
Publication date: Jun. 27, 2000
Summary:
【要約】【課題】フッ素の回収効率を向上した半導体製造工場の廃液処理装置を提供することにある。【解決手段】半導体製造系3の廃液は、紫外線発生器5によって紫外線を照射して、TMAを分解し、次に、ルテニウム触媒が充填された触媒塔8によって、過酸化水素を分解し、さらに、イオン交換樹脂が充填された電気透析装置10によって弗化水素及び金属を回収する。
Claim (excerpt):
半導体製造工場において半導体製造時に発生する廃液の処理を行う半導体製造工場の廃液処理装置において、上記廃液を電気透析して、廃液中のフッ素を弗化水素として回収する電気透析手段を備え、上記電気透析装置の廃液室内に、イオン交換樹脂を充填したことを特徴とする半導体製造工場の廃液装置。
IPC (4):
C02F 1/469
, C02F 1/32
, C02F 1/42
, C02F 1/70
FI (4):
C02F 1/46 103
, C02F 1/32
, C02F 1/42 E
, C02F 1/70 Z
F-Term (43):
4D025AB06
, 4D025AB17
, 4D025AB22
, 4D025AB23
, 4D025BA08
, 4D025BA13
, 4D025BA22
, 4D025BA27
, 4D025BB02
, 4D025BB04
, 4D025DA05
, 4D025DA06
, 4D037AA14
, 4D037AB12
, 4D037BA18
, 4D037CA03
, 4D037CA04
, 4D037CA15
, 4D050AA13
, 4D050AB33
, 4D050BC06
, 4D050BC09
, 4D050BD06
, 4D050CA06
, 4D050CA08
, 4D050CA09
, 4D050CA10
, 4D061DA08
, 4D061DB18
, 4D061DB19
, 4D061DC09
, 4D061DC13
, 4D061DC18
, 4D061DC22
, 4D061DC23
, 4D061EA09
, 4D061EB01
, 4D061EB04
, 4D061EB18
, 4D061EB22
, 4D061ED17
, 4D061FA06
, 4D061FA20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
-
シリコンウエハ洗浄装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-307466
Applicant:オルガノ株式会社
-
特開昭53-128584
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水性流体中の酸化物質を分解させる方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-187259
Applicant:バイエル・アクチエンゲゼルシヤフト
-
過酸化水素とアンモニアとを含む排水の処理法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-223093
Applicant:栗田工業株式会社
-
排水の処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-178348
Applicant:株式会社東芝
-
特開昭63-175689
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