ゼロ交差に基づく群遅延を測定するためのシステム及び方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：加藤公久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002130478
Publication number (International publication number)：2003028753
Application date： May. 02, 2002
Publication date： Jan. 29, 2003
Summary：

【要約】【課題】光学コンポーネントの群遅延を効率よく、正確に測定するためのシステム及び方法の提供【解決手段】光学被測定物(DUT)の群遅延を測定するためのシステムまたは方法において、群遅延測定用の干渉計で用いられる入力光信号に生じる一様でない周波数変化を補償するために、テスト干渉計と連携した光周波数カウンタを利用する。DUTの群遅延は、入力光信号からテスト干渉計によって生成されるAC結合ヘテロダインビート信号のゼロ交差を用いて測定される。群遅延の測定において、入力光信号の一様でない変化によるヘテロダインビート信号の位相変化は、入力光信号の光周波数の測定値により補償される。光周波数は、光周波数カウンタにより検出され、検出された光周波数は入力光信号の一様でない周波数変化を示す。

Claim (excerpt)：

光学DUTの群遅延を測定する方法であって、前記光学DUTを含むテスト干渉計に対して、周波数が時間の経過につれて変動する入力光信号を発生するステップと、前記テスト干渉計からのDUTヘテロダイン・ビート信号のDUTゼロ交差を検出するステップと、DUTゼロ交差関数の時間と光周波数の一方に関して、前記DUTゼロ交差によって定義される前記DUTゼロ交差関数の導関数を用いて、前記光学DUTの群遅延を計算するステップが含まれている、方法。

F-Term (1)：

2G086EE12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

データの経時の調整
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2001-584819 Applicant：ザイゴコーポレーション
干渉測定システムにおける非線形性を量化するシステムおよび方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2001-538744 Applicant：ザイゴコーポレーション
光学装置の特性を決定する方法及び検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-349780 Applicant：アジレント・テクノロジーズ・インク

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