眼科測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004169321
Publication number (International publication number)：2005348755
Application date： Jun. 08, 2004
Publication date： Dec. 22, 2005
Summary：

【課題】一台にて眼の種々の生体情報を測定・取得できる眼科測定装置を提供する。【解決手段】被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の光を照射する測定光照射光学系と、被検眼に向けて照射した低コヒーレント長の光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、低コヒーレント長の光の照射によって得られる被検眼の前眼部からの反射光を参照光とする参照光照射光学系と、参照光照射光学系によって得られる参照光と測定光照射光学系によって得られる被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,得られた干渉光を周波数成分に分光して受光する干渉光学系と、干渉光学系にて得られる受光信号に基づいて被検眼の生体内寸法を測定する生体内寸法測定手段と、を備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の光を照射する測定光照射光学系と、被検眼に向けて照射した前記低コヒーレント長の光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した前記反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、前記低コヒーレント長の光の照射によって得られる前記被検眼の前眼部からの反射光を参照光とする参照光照射光学系と、該参照光照射光学系によって得られる参照光と前記測定光照射光学系によって得られる前記被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,得られた干渉光を周波数成分に分光して受光する干渉光学系と、該干渉光学系にて得られる受光信号に基づいて被検眼の生体内寸法を測定する生体内寸法測定手段と、を備えることを特徴とする眼科測定装置。

IPC (1)：

A61B3/10

FI (3)：

A61B3/10 Z , A61B3/10 M , A61B3/10 R

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

被測定眼寸法測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-048523 Applicant：株式会社トプコン

Cited by examiner (7)

被測定眼寸法測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-048523 Applicant：株式会社トプコン
特開平4-096727
特開平3-030752

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