Pat
J-GLOBAL ID:200903040393390325
絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊丹 勝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002327215
Publication number (International publication number):2003258253
Application date: Nov. 11, 2002
Publication date: Sep. 12, 2003
Summary:
【要約】【課題】 製造効率を低下させることなく低オン電圧特性を得ることができる絶縁ゲート型バイポーラトランジスタを提供する。【解決手段】 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタは、第1導電型の第1半導体層と、この第1半導体層の表面に形成された第2導電型の第2半導体層と、この第2半導体層の表面に形成された第1導電型のベース層と、このベース層の表面から第2半導体層に達する深さに形成されたトレンチにゲート絶縁膜を介して埋め込まれて、それぞれ上面が直交する2軸方向の幅の異なる矩形パターンをなしてその短手方向に複数個配列されたゲート電極と、前記ベース層の表面に前記各ゲート電極の長手方向両端部に対向するように形成された第2導電型のエミッタ層と、このエミッタ層とベース層にコンタクトする第1の主電極と、前記第1半導体層の裏面に形成された第2の主電極とを有する。
Claim (excerpt):
第1導電型の第1半導体層と、前記第1半導体層の表面に形成された第2導電型の第2半導体層と、前記第2半導体層の表面に形成された第1導電型のベース層と、前記ベース層の表面から前記第2半導体層に達する深さに形成されたトレンチにゲート絶縁膜を介して埋め込まれて、それぞれ上面が直交する2軸方向の幅の異なる矩形パターンをなしてその短手方向に複数個配列されたゲート電極と、前記ベース層の表面に前記各ゲート電極の長手方向両端部に対向するように形成された第2導電型のエミッタ層と、前記エミッタ層とベース層にコンタクトする第1の主電極と、前記第1半導体層の裏面に形成された第2の主電極と、を有することを特徴とする絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ。
IPC (5):
H01L 29/78 652
, H01L 29/78
, H01L 29/78 653
, H01L 29/78 655
, H01L 21/336
FI (6):
H01L 29/78 652 K
, H01L 29/78 652 B
, H01L 29/78 653 A
, H01L 29/78 655 F
, H01L 29/78 658 E
, H01L 29/78 658 G
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (3)
-
半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-065761
Applicant:株式会社東芝
-
電力用半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-319027
Applicant:株式会社東芝
-
トレンチ型絶縁ゲートバイポーラトランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-028392
Applicant:富士電機株式会社
Return to Previous Page