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J-GLOBAL ID：200903040394323737

光ファイバ特性測定装置及び方法

Inventor： 保立 和夫 ,  金納 元勝
Applicant, Patent owner： 保立 和夫 ,  安藤電気株式会社 ,  九州安藤電気株式会社
Agent (1)： 志賀 正武 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001201053
Publication number (International publication number)：2003014584
Application date： Jul. 02, 2001
Publication date： Jan. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】 高空間分解能を保ったまま長い距離に亘って被測定光ファイバの特性を測定することができる光ファイバ特性測定装置及び方法を提供する。【解決手段】 レーザ光を射出する光源10と、レーザ光の一部を強度変調して被測定光ファイバ17の一端からプローブ光L1として入射させる光変調器14と、光源10から射出されたレーザ光の一部の残りをパルス化して被測定光ファイバ17の他端からポンプ光L2として入射させるパルス変調器18と、被測定光ファイバ17の他端から射出される光のうち、被測定光ファイバ17に設定された測定点近傍からの光のみを通過させるタイミング調整器20と、タイミング調整器20を通過した光を検出して、被測定光ファイバ17の特性を測定する光検出器22とを備える。

Claim (excerpt)：

レーザ光を射出する光源と、前記光源から射出されたレーザ光の一部を被測定光ファイバの一端からプローブ光として入射させる入射手段と、前記光源から射出されたレーザ光の一部の残りをパルス化して前記被測定光ファイバの他端からポンプ光として入射させるパルス変調器と、前記被測定光ファイバの他端から射出される光のうち、前記被測定光ファイバに設定された測定点近傍からの光のみを通過させるタイミング調整器と、前記タイミング調整器を通過した光を検出して、前記被測定光ファイバの特性を測定する光検出器とを備えることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。

F-Term (2)：

2G086CC03 ,  2G086KK05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• ブリルアンゲインスペクトル測定方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-375465   Applicant：アンリツ株式会社, 保立和夫, 長谷川健美
• 光ファイバ歪測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-261838   Applicant：株式会社フジクラ, 東京電力株式会社