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J-GLOBAL ID:200903040450505266

半導体装置形成用ウエハ、その製造方法、および電界効果型トランジスタ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大垣 孝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005087650
Publication number (International publication number):2006269862
Application date: Mar. 25, 2005
Publication date: Oct. 05, 2006
Summary:
【課題】オフ耐圧を従来よりも高めることで、大きな出力電力を得ること。【解決手段】基板12と、基板の主面12a側に形成されたGaNからなる電子走行層16と、電子走行層上に形成されたAlGaNからなる電子供給層18とを備え、電子走行層の厚みが、0.2〜0.9μmであることを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
基板と、該基板の主面側に形成されたGaNからなる電子走行層と、該電子走行層上に形成されたAlGaNからなる電子供給層とを備え、 前記電子走行層の厚みが、0.2〜0.9μmであることを特徴とする半導体装置形成用ウエハ。
IPC (3):
H01L 29/812 ,  H01L 29/778 ,  H01L 21/338
FI (1):
H01L29/80 H
F-Term (16):
5F102FA01 ,  5F102GB01 ,  5F102GC01 ,  5F102GD01 ,  5F102GJ02 ,  5F102GJ03 ,  5F102GJ10 ,  5F102GK04 ,  5F102GK08 ,  5F102GL04 ,  5F102GL07 ,  5F102GL17 ,  5F102GM04 ,  5F102GQ01 ,  5F102GR09 ,  5F102HC01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 高移動度トランジスタ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-057070   Applicant:古河電気工業株式会社
  • 半導体装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-005093   Applicant:松下電器産業株式会社
  • GaN系電界効果トランジスタ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-328873   Applicant:古河電気工業株式会社

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