レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999316031
Publication number (International publication number)：2001133385
Application date： Nov. 05, 1999
Publication date： May. 18, 2001
Summary：

【要約】【課題】青色の粒子をも含めて、サブ・サブミクロンオーダーから数百、数千μmに及ぶ広い範囲にわたる連続的な粒度分布を正確に測定することのできるレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】被測定粒子群Pに照射する照射光学系の光源を、出力波長300〜500μmの半導体レーザ1とすることにより、測定可能な粒子径範囲の下限を下げ、かつ、単一波長を用い、単一の測定原理に基づく測定により、不連続点のない粒度分布の測定を可能とする。

Claim (excerpt)：

分散状態の粒子群にレーザ光を照射する照射光学系と、その照射光学系からのレーザ光の粒子群による回折・散乱光を受光して、その空間強度分布を計測するための測定光学系と、その測定光学系による測定結果から粒子群の粒度分布を算出する演算部を備えたレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置において、上記照射光学系の光源が、出力光波長300〜500nmの範囲内の半導体レーザであることを特徴とするレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

青色発光素子
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-114542 Applicant：日亜化学工業株式会社
レーザダイオード
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-209745 Applicant：ローム株式会社
異物検査装置及び異物検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-083883 Applicant：ソニー株式会社

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