Pat
J-GLOBAL ID:200903040936714592

検眼方法および検眼システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡田 全啓
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002197959
Publication number (International publication number):2004033637
Application date: Jul. 05, 2002
Publication date: Feb. 05, 2004
Summary:
【課題】安価で、被検査者の主観や測定環境の影響を受けることなく、近視、遠視、老視、乱視を精度良く測定することができ、特に、強度の近視、強度の遠視、強度の乱視にも対応可能な検眼方法を得る。【解決手段】本発明にかかる検眼方法は、表示手段に表示した視標を被検査者に片眼で視認させて行う。表示手段に所定形状の視標を表示し、被検査者が視標を最も変形して視認した方向と、その方向における被検査者が視標を視認している視標の長さを測定する。そして、測定した方向および長さに基づいて被検査者の乱視軸、眼球の球面度数および乱視度数を決定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
表示手段に表示した視標を被検査者に片眼で視認させて行う検眼方法であって、 前記表示手段に所定形状の視標を表示するステップと、 被検査者が前記視標を視認している形状に関する情報を取得するステップと、前記被検査者が前記視標を視認している形状に関する情報に基づいて眼球の光学パラメータを決定するステップとを有する、検眼方法。
IPC (2):
A61B3/028 ,  A61B3/00
FI (2):
A61B3/02 B ,  A61B3/00 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
Show all
Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page