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J-GLOBAL ID：200903041479540520

光計測方法および装置

Inventor：
木村 俊仁

About 木村 俊仁


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999255296
Publication number (International publication number)：2001074657
Application date： Sep. 09, 1999
Publication date： Mar. 23, 2001
Summary：
【要約】【課題】 光計測方法および装置において、測定対象となる検体以外から発生した蛍光の検出器への入射を低減し、検体から発生する蛍光を高いS/N比で検出できるようにする。【解決手段】 レーザ光源40から発生した励起光Leの照射によって検体スポットKspから発生する蛍光Keを、第1集光レンズ51により平行光束とし、この平行光束の中央部の光束を中央光束遮光板60により遮光し、平行光束の周辺部の光束のみを第2集光レンズ52によりピンホールPhに集光し、このピンホールPhを通過した蛍光を検出器70によって検出する。
Claim (excerpt)：
蛍光色素で標識された検体に励起光を照射し、該励起光の照射により前記検体から発生した蛍光を平行光束とし、該平行光束の中央部の光束を遮光または分散させて、該平行光束の周辺部のみを直進させた後ピンホールに集光し、該ピンホールを通過した前記蛍光を検出することを特徴とする光計測方法。
IPC (2)：
G01N 21/64 ,  G01N 21/78
FI (2)：
G01N 21/64 F ,  G01N 21/78 C
F-Term (38)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA04 ,  2G043GB01 ,  2G043GB02 ,  2G043GB05 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G043NA06 ,  2G054AA03 ,  2G054BB07 ,  2G054CA22 ,  2G054CD01 ,  2G054CE02 ,  2G054EA03 ,  2G054EB01 ,  2G054FA12 ,  2G054FA17 ,  2G054FA20 ,  2G054FA33 ,  2G054FB01 ,  2G054GA04 ,  2G054GA05 ,  2G054GB02 ,  2G054GE02 ,  2G054JA02 ,  2G054JA05 ,  2G054JA10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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