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J-GLOBAL ID：200903041830005408

ヘテロダインビート画像同期測定方法及びその装置

Inventor：
佐藤 学

About 佐藤 学

, 
丹野 直弘

About 丹野 直弘


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団


Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001007502
Publication number (International publication number)：2002214128
Application date： Jan. 16, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】 ヘテロダインビート信号に含まれる高次高調波をも考慮に入れて検討を行い、ヘテロダインビート信号に、ランダムな位相揺らぎが存在しても、安定にヘテロダインビート画像が測定できるヘテロダインビート画像同期測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 下記の式の画素上でのヘテロダインビート信号に含まれる高次高調波をも考慮するとともに、信号光強度IS を位相揺らぎ成分δに依存しないで求め、ランダムな位相揺らぎが存在しても、安定にヘテロダインビート画像を測定することを特徴とするヘテロダインビート画像同期測定方法。IHB(t)=Ir +IS +2√(Ir ・IS )×cos〔φ(t)+δ〕ここで、Ir は参照光信号、φ(t)は位相変調成分である。
Claim (excerpt)：
下記の式の画素上でのヘテロダインビート信号に含まれる高次高調波をも考慮するとともに、信号光強度IS を位相揺らぎ成分δに依存しないで求め、ランダムな位相揺らぎが存在しても、安定にヘテロダインビート画像を測定することを特徴とするヘテロダインビート画像同期測定方法。IHB(t)=Ir +IS +2√(Ir ・IS )×cos〔φ(t)+δ〕ここで、Ir は参照光信号、φ(t)は位相変調成分である。
IPC (3)：
G01N 21/17 630 ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/24
FI (3)：
G01N 21/17 630 ,  G01B 9/02 ,  G01B 11/24 D
F-Term (33)：
2F064AA09 ,  2F064EE04 ,  2F064FF00 ,  2F064GG22 ,  2F064GG51 ,  2F064HH03 ,  2F064HH08 ,  2F064JJ04 ,  2F065AA52 ,  2F065BB05 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF52 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN01 ,  2F065NN05 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ14 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05 ,  2G059AA03 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM17 ,  2G059NN01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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