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J-GLOBAL ID：200903041907515056

微量成分の分子濃度の測定方法及び装置

Inventor： 中島 信昭 ,  原田 日出男 ,  清水 政二 ,  八ツ橋 知幸 ,  阪部 周二 ,  井澤 靖和
Applicant, Patent owner： 財団法人レーザー技術総合研究所
Agent (1)： 鎌田 文二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001311351
Publication number (International publication number)：2003121416
Application date： Oct. 09, 2001
Publication date： Apr. 23, 2003
Summary：

【要約】【課題】 微量成分の分子の親イオンが壊れないようにレーザ光を照射して正確な分子濃度を測定する。【解決手段】 フエムト秒チタンサファイアレーザを用いた高出力超短パルスレーザ10と、非線型結晶を用いた光パラメトリック発振器による波長可変手段20と、レーザ光の照射により分子をイオン化し、分子イオン強度を測定する飛行時間型の質量分析装置30とを備え、分子及び分子イオンの電子遷移吸収、振動遷移吸収、振動遷移倍音吸収のない波長帯の任意の波長のレーザ光を波長可変手段20により設定して分子に照射し、その分子イオン強度を質量分析装置30により測定する。

Claim (excerpt)：

微量成分の分子に、その分子及び分子イオンの電子遷移吸収、振動遷移吸収及び振動遷移倍音吸収に対し非共鳴波長の超短パルスレーザ光を照射し、この照射によって生成される分子イオンのイオン強度をイオン強度測定手段により測定し、このイオン強度から分子濃度を求める微量成分の分子濃度測定方法。

IPC (2)：

G01N 27/64 ,  G01N 27/62

FI (2)：

G01N 27/64 B ,  G01N 27/62 V

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• ダイオキシン類の迅速分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-170223   Applicant：日本鋼管株式会社
• レーザーイオン化質量分析方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-061936   Applicant：大阪瓦斯株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• “レーザーによるダイオキシン類計測の最先端”
• “高強度フェムト秒レーザーによる有機塩素化合物のイオン化”