Pat
J-GLOBAL ID：200903042249302511
反射散乱型ジオメトリを用いた無開口近接場走査型ラマン顕微鏡法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：
前田 弘
, 小山 廣毅
, 竹内 宏
, 竹内 祐二
, 今江 克実
, 原田 智雄
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002567789
Publication number (International publication number)：2004533604
Application date： Feb. 22, 2002
Publication date： Nov. 04, 2004
Summary：
レーザビーム(24)がサンプル(14)上の小さなスポットに集光される。銀で被覆された金属プローブ(16)は、ビームの範囲内でサンプル(14)に接近または接触する位置に配置されるチップを有している。反射したラマン信号(28)が検出される。金属プローブ(16)は、ラマン信号を増強し、高分解能を実現する。金属プローブは、カンチレバー状に形成されてもよく、その位置を光学手段(20、22)で監視しながらサンプル(14)の表面を端から端まで走査するようにしてもよい。
Claim (excerpt)：
計測対象のサンプルを受け入れるステージと、
上記ステージ上の小さなスポットサイズにレーザビームを集光させるレンズと、
上記レーザのスポットの範囲内で上記サンプルに少なくとも接近する無開口金属チップと、
ラマン分光計とを備え、
上記レンズは、ラマン散乱する反射光を収集し、
上記ラマン分光計は、上記収集された光を受光して上記サンプルを分析するラマン分光画像装置。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (22)：
2G020BA17
, 2G020CA04
, 2G020CB23
, 2G020CD14
, 2G020CD23
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043EA14
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA02
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043GB02
, 2G043GB03
, 2G043GB05
, 2G043GB16
, 2G043HA01
, 2G043JA01
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043KA09
Cited by examiner (3)
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走査型近接場光学顕微鏡
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-122198
Applicant：オリンパス光学工業株式会社
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近接場顕微鏡
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平8-016703
Applicant：株式会社分子バイオホトニクス研究所
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原子間力顕微鏡
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平3-305998
Applicant：オリンパス光学工業株式会社
Article cited by the Patent：
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