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J-GLOBAL ID：200903042551499375
レーザー距離測定能力を向上する方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
竹本 松司 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997363318
Publication number (International publication number)：1999183618
Application date： Dec. 16, 1997
Publication date： Jul. 09, 1999
Summary：
【要約】【課題】 レーザー距離測定能力を向上する方法の提供。【解決手段】 定電流線性充電回路によりレーザー光測距の時間差を電圧値に変換し、この電圧値をディジタル信号に変換し中央処理装置での計算を経て距離データを獲得しそれを表示ユニットに表示し、校正回路により、二つの目標距離信号をシュミレートして定電流線性充電回路に送り二つのデータに変換し、中央処理装置でその平均を計算して修正レベルと修正ゲインを取得して中央処理装置に与え、即時のデータ修正を行い測量の正確度と温度補償効果を確保し、レーザー距離測定能力を向上する。
Claim (excerpt)：
以下の(1)と(2)の二つの方法、即ち、(1)定電流線性充電方式を利用し、レーザー光測距の時間差を電圧値に変換し、この電圧値をディジタル信号に変換し中央処理装置での計算を経て距離データを獲得する方法(2)自己校正及び温度補償技術を利用し、二つの目標距離信号をシュミレートして定電流線性充電回路に送り二つのデータに変換し、中央処理装置でその平均を計算して修正レベルと修正ゲインを取得して中央処理装置に与え、即時のデータ修正を行い測量の正確度と温度補償効果を確保する方法、以上を包括し、上述の二つの方法により、レーザー光発射と受信の時間差を有効に距離数に変換して、温度効果による偏移現象がもたらす測距の正確度と安定度への影響を消去して測距の能力を大幅に向上して、測距の正確度を増すことを特徴とする、レーザー距離測定能力を向上する方法。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
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距離測定用半導体集積回路
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平4-019130
Applicant：シヤープ株式会社
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特開昭63-198818
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