Pat
J-GLOBAL ID:200903042554505724

非破壊検査方法及び非破壊検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小栗 昌平 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000305225
Publication number (International publication number):2002116112
Application date: Oct. 04, 2000
Publication date: Apr. 19, 2002
Summary:
【要約】【課題】 構造が簡単で精度の良い測定ができる非破壊検査装置を提供する。【解決手段】 周波数が所定の周波数範囲で連続的に変化する正弦波信号を発生させる正弦波発振器1を設け、この正弦波発振器1からの正弦波信号を機械的振動に変換して被検査タイル10に印加する一方で、その印加点から離間した点で被検査タイル10で発生する機械的振動を検出して、検出した機械的振動を電気信号に変換し、更に変換した電気信号と正弦波発振器1からの正弦波信号とを乗算し、これにより得られる電気信号に基づいて被検査タイル10の欠陥を検出する。
Claim (excerpt):
所定の範囲で周波数が経時的に変化する正弦波信号を発生させて、この正弦波信号を機械的振動に変換して被検査対象物に与える一方、前記機械的振動の印加点から離間した点で前記被検査対象物で発生する機械的振動を検出し、検出した機械的振動を電気信号に変換し更に変換した電気信号と前記正弦波信号とを乗算し、これにより得られる電気信号に基づいて前記被検査対象物の欠陥を検出することを特徴とする非破壊検査方法。
IPC (2):
G01M 7/02 ,  G01N 29/12
FI (2):
G01N 29/12 ,  G01M 7/00 A
F-Term (9):
2G047AA09 ,  2G047AA10 ,  2G047BC04 ,  2G047BC07 ,  2G047CA03 ,  2G047GF05 ,  2G047GF07 ,  2G047GF11 ,  2G047GG17
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (9)
Show all
Cited by examiner (10)
Show all

Return to Previous Page