クロマトグラフ質量分析計

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小林良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999001745
Publication number (International publication number)：2000206103
Application date： Jan. 07, 1999
Publication date： Jul. 28, 2000
Summary：

【要約】【課題】移動相として用いられる物質に起因する非分析対象イオン群による影響を受けることなく、試料中の微量成分でも検出できるようなクロマトグラフ質量分析計を提供する。【解決手段】試料の分離成分に対応するピークが検出されない時間帯に質量分析部のイオン検出器が出力する信号を処理することにより得られるマススペクトルをバックグラウンドノイズとして原マススペクトルから減算することにより差分マススペクトルを得る。この差分マススペクトルを用いれば、移動相に起因するノイズを含まない良好なクロマトグラムが得られる。

Claim (excerpt)：

質量分析部のイオン検出器の出力信号を処理することにより得られる原マススペクトルからクロマトグラフ部で移動相として用いられる物質に起因するイオンのマススペクトルを減算することにより得られる差分マススペクトルを用いてクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成手段を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析計。

IPC (3)：

G01N 30/86 , G01N 27/62 , G01N 30/72

FI (4)：

G01N 30/86 L , G01N 30/86 H , G01N 27/62 X , G01N 30/72 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

クロマトグラフの吸光分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-186792 Applicant：株式会社島津製作所
特開昭61-260149
特開昭62-172261

Show all

Return to Previous Page