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J-GLOBAL ID：200903042968734636

放射線検査装置

Inventor：
石井 慶造

About 石井 慶造


Applicant, Patent owner：
住友重機械工業株式会社

About 住友重機械工業株式会社

, 
石井 慶造

About 石井 慶造


Agent (3)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  黒木 義樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003392738
Publication number (International publication number)：2005156252
Application date： Nov. 21, 2003
Publication date： Jun. 16, 2005
Summary：
【課題】 半導体検出器を備えた放射線検査装置において、1mm以下の空間分解能を達成する。【解決手段】 被検体S内にある放射性同位元素からのガンマ線を検出して同時計数し、放射性同位元素の被検体S内における分布情報を取得する放射線検査装置10である。この装置10は、被検体Sを挟んで所定間隙をおいて対向配置されており、ガンマ線を検出するための一対の半導体検出器14を備える。そして、一対の半導体検出器14それぞれの対向面20は、互いに直交する第1及び第2の方向の長さT1,T2により規定され、第1の方向の長さT1が2mm以下である。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
被検体内にある放射性同位元素からのガンマ線を検出して同時計数し、該放射性同位元素の該被検体内における分布情報を取得する放射線検査装置であって、 前記被検体を挟んで所定間隙をおいて対向配置され、前記ガンマ線を検出するための一対の半導体検出器を備え、 前記一対の半導体検出器それぞれの対向面は、互いに直交する第1及び第2の方向の長さにより規定され、該第1の方向の長さが2mm以下であることを特徴とする放射線検査装置。
IPC (2)：
G01T1/161 ,  G01T1/24
FI (3)：
G01T1/161 C ,  G01T1/161 A ,  G01T1/24
F-Term (8)：
2G088EE01 ,  2G088EE02 ,  2G088FF07 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ02 ,  2G088KK01 ,  2G088KK15
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (16)
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