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J-GLOBAL ID:200903052570856923
放射線検出器
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999001961
Publication number (International publication number):2000206257
Application date: Jan. 07, 1999
Publication date: Jul. 28, 2000
Summary:
【要約】【課題】 バイアスが容易に印加可能な放射線検出器を提供する。【解決手段】 放射線検出器の単位ユニット10は、放射線hνの入射方向に対して略垂直(X方向)に配列した第1及び第2半導体放射線検出素子1,2と、第1及び第2半導体放射線検出素子1,2をその両面においてそれぞれ支持する単一の第1平板状共通電極5とを備えている。複数のユニット10を備えたアレイ4A又は4Bは、Y方向の放射線の入射位置を検出することができ、これらのアレイ4A,4Bを組み合わせてなるアレイ組立体4は、XY平面内の放射線の入射位置を検出することができる。
Claim (excerpt):
放射線入射方向に対して略垂直に配列した第1及び第2半導体放射線検出素子と、前記第1及び第2半導体放射線検出素子をその両面においてそれぞれ支持する単一の第1平板状共通電極とを備えることを特徴とする放射線検出器。
IPC (3):
G01T 1/24
, G01T 7/00
, H01L 31/09
FI (3):
G01T 1/24
, G01T 7/00 A
, H01L 31/00 A
F-Term (14):
2G088FF02
, 2G088FF04
, 2G088GG21
, 2G088JJ05
, 2G088JJ09
, 2G088JJ31
, 2G088JJ33
, 2G088JJ37
, 5F088BA20
, 5F088DA11
, 5F088EA03
, 5F088JA02
, 5F088JA18
, 5F088KA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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2次元マトリックスアレイ放射線検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-291384
Applicant:株式会社ジャパンエナジー
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半導体検出器アレイ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-023144
Applicant:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
-
半導体射線検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-010378
Applicant:日立化成工業株式会社
-
特開昭60-086481
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放射線検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-308762
Applicant:株式会社ジャパンエナジー
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光・放射線電気変換半導体装置およびその応用
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-187595
Applicant:セイコー電子工業株式会社
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特開昭53-105182
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半導体放射線検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-047576
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社
-
放射線半導体検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-081843
Applicant:株式会社東芝
-
2次元マトリックスアレイ放射線検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-104942
Applicant:株式会社ジャパンエナジー, クレスト電子株式会社
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