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J-GLOBAL ID：200903043469605783

異音による不良検査装置

Inventor：
清水 信輝

About 清水 信輝


Applicant, Patent owner：
ダイハツ工業株式会社

About ダイハツ工業株式会社


Agent (1)： 江原 省吾 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002020281
Publication number (International publication number)：2003214944
Application date： Jan. 29, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：
【要約】【課題】 回転部品の特定の不良原因に対応する周波数成分から不良を検査する装置と、全周波数成分を用いて不良品を検査する装置において、適正なしきい値を設定でき、良品と不良品を明確に識別できるようにする。【解決手段】 異音を検出するセンサ8の出力から、特定の不良原因によって検査対象物6に発生する異音の周波数成分をウェーブレット変換手段等の信号分離手段12によって抽出し、この周波数成分の最大値と平均値の比、最大値と実効値の比、最大値と実効値の比の2乗値等を判定信号として用い、統計的に決定され、しきい値設定手段14に設定されたしきい値と比較して、前記特定の不良原因の有無を判定する。また、全周波数成分を用いて不良品を検査する場合は、センサ8の出力を微分して判定信号を作成する。
Claim (excerpt)：
検査対象物の回転に伴って発生する音又は振動を検出するセンサと、センサの出力から特定の不良原因によって検査対象物に発生する異音の周波数成分を抽出する信号分離手段と、信号分離手段により抽出した前記周波数成分の最大値と平均値の比を判定信号として求める判定信号演算手段と、この判定信号を所定のしきい値と比較し、前記特定の不良原因の有無を判定する判定手段とを具備したことを特徴とする異音による不良検査装置。
IPC (2)：
G01H 17/00 ,  G01M 19/00
FI (2)：
G01H 17/00 A ,  G01M 19/00 A
F-Term (11)：
2G024AD01 ,  2G024BA27 ,  2G024CA13 ,  2G024FA04 ,  2G064AA15 ,  2G064AB15 ,  2G064AB22 ,  2G064CC29 ,  2G064CC41 ,  2G064CC45 ,  2G064CC46
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
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