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J-GLOBAL ID：200903076044196630

異常判定方法および装置

Inventor：
古田 勝久

About 古田 勝久


Applicant, Patent owner：
オムロン株式会社

About オムロン株式会社


Agent (1)： 和田 成則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997345002
Publication number (International publication number)：1999173909
Application date： Dec. 15, 1997
Publication date： Jul. 02, 1999
Summary：
【要約】【課題】 振動部を有する製品の種々の正常、異常を安定して判定することができるようにした異常判定方法および装置を提供する。【解決手段】 振動部を有する製品に取り付けられた計測手段により計測された計測データから時間軸波形を求め該時間軸波形を解析する時間軸波形解析と、周波数軸波形を求め該周波数軸波形を解析する周波数軸波形解析とを並列実行し、時間軸波形解析および周波数軸波形解析の総合判定結果から製品の異常を判定する。
Claim (excerpt)：
計測手段により計測された計測データに基づき該製品の異常を判定する異常判定方法において、上記計測データから時間軸波形を求め該時間軸波形を解析する時間軸波形解析と、上記計測データから周波数軸波形を求め該周波数軸波形を解析する周波数軸波形解析とを実行し、上記時間軸波形解析および上記周波数軸波形解析の総合判定結果から上記製品の異常を判定することを特徴とする異常判定方法。
IPC (3)：
G01H 17/00 ,  G01D 21/00 ,  G01M 19/00
FI (3)：
G01H 17/00 Z ,  G01D 21/00 N ,  G01M 19/00 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (6)
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