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J-GLOBAL ID:200903043733206906
X線異物検出装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
西村 教光 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000325780
Publication number (International publication number):2002131247
Application date: Oct. 25, 2000
Publication date: May. 09, 2002
Summary:
【要約】【課題】 被検査物の長さに応じた最適な表示エリアでX線曝射時の被検査物の全体画像を表示し、被検査物中の異物の有無を一目で確認できる。【解決手段】 被検査物の長さに応じて表示器6の表示エリア6aを可変し、被検査物の長さに最適な表示エリア6aでX線曝射時の内部状態を示す被検査物の全体画像Aを表示するとともに、この全体画像A以外の表示エリア6a内に一緒に被検査物の良否判定表示Bや検査結果表示Cを行う。
Claim (excerpt):
被検査物(2)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器(6)の表示エリア内に表示するX線異物検出装置(1)において、前記X線曝射時の内部状態を示す前記被検査物の全体画像を前記表示器の表示エリア内に表示するように前記被検査物の長さに応じて前記表示エリアの大きさを可変制御する表示制御手段(15)を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N 23/04
, G01B 15/00 A
F-Term (34):
2F067AA62
, 2F067AA67
, 2F067BB14
, 2F067EE05
, 2F067FF11
, 2F067HH04
, 2F067JJ03
, 2F067KK06
, 2F067LL03
, 2F067LL14
, 2F067NN03
, 2F067PP15
, 2F067RR30
, 2F067SS02
, 2F067SS13
, 2F067UU33
, 2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001DA08
, 2G001FA01
, 2G001FA06
, 2G001GA04
, 2G001HA12
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001JA13
, 2G001JA20
, 2G001KA20
, 2G001LA01
, 2G001PA03
, 2G001PA11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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X線式異物検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-180731
Applicant:株式会社島津製作所
-
X線検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-011576
Applicant:株式会社島津製作所
-
X線異物検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-177055
Applicant:株式会社島津製作所
-
特開平3-090844
-
X線検査方法およびその装置並びにプレプレグの検査方法および多層配線基板の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-334598
Applicant:株式会社日立製作所
-
長尺対象物表示装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-101762
Applicant:精電舎電子工業株式会社
-
情報提供システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-305468
Applicant:松下電器産業株式会社
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特開昭62-179644
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