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J-GLOBAL ID:200903044423754322

センサ診断方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 堀 進 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996270024
Publication number (International publication number):1998115534
Application date: Oct. 11, 1996
Publication date: May. 06, 1998
Summary:
【要約】【課題】 診断対象の複数のセンサによる測定値間の関係からどのセンサに異常があるかを診断する方法と装置を提供する。【解決手段】 診断対象のセンサを含むシステムを有向グラフで表わし、その有向グラフ中のセンサを示す点毎に測定値に関する不等式を生成し、センサで測定された値が当該センサに対する不等式を満足するか否かにより、センサの正常/異常を診断する。
Claim (excerpt):
診断対象の複数のセンサを含むシステムを有向グラフで表わし、該有向グラフ中の前記センサを示す点毎に測定値に関する不等式を生成し、前記センサで測定された値が当該センサに対する不等式を満足するか否かにより、前記センサの正常/異常を診断することを特徴とするセンサ診断方法。
IPC (3):
G01D 21/00 ,  G05B 23/02 301 ,  G06F 11/22 330
FI (3):
G01D 21/00 Q ,  G05B 23/02 301 Z ,  G06F 11/22 330 H
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (33)
  • 特開平1-266699
  • プロセス運用支援システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-064169   Applicant:株式会社日立製作所
  • 状態予測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-035729   Applicant:横河電機株式会社
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