フィルムに対する欠陥検査方法およびその装置並びにフィルム状製品、その加工方法およびその加工システム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：小川勝男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002012390
Publication number (International publication number)：2003215051
Application date： Jan. 22, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：

【要約】【課題】粒子などのフィラーが存在するフィルムの中から、迅速かつ高精度な欠陥検査を可能にし、該欠陥検査の情報を記録若しくは添付してフィルム状製品として提供するフィルム対する欠陥検査方法とその装置並びにフィルム状製品を提供することにある。【解決手段】光学的特性が異なる粒子などのフィラーが存在するフィルム状検査対象に対して、斜方照明と落射照明の2系統の検出光学系を備え、照明光の照射角および照明光の波長を選択することで、撮像される画像から欠陥とフィルム中に存在するフィラーの濃淡度の相違を検出し、これに基づいて欠陥を弁別し、さらに欠陥種、大きさ、欠陥の検出座標を検査結果として記録若しくは添付することで、フィルム状製品の品質管理を改善して付加価値を高める。

Claim (excerpt)：

フィルム状被検査対象を走行させる走行工程と、該走行工程で走行されるフィルム状被検査対象に対して斜方から斜方照明光を集光して照射し、前記フィルム状被検査対象で反射した反射光をフィルム状被検査対象の法線方向から受光して第1の画像信号として検出し、該検出された第1の画像信号に基づいて第1の欠陥を検出する第1の欠陥検出工程と、前記走行工程で走行されるフィルム状被検査対象に対して法線方向から垂直照明光を集光して照射し、前記フィルム状被検査対象で反射した反射光を前記フィルム状被検査対象の法線方向から受光して第2の画像信号として検出し、該検出された第2の画像信号に基づいて第2の欠陥を検出する第2の欠陥検出工程と、前記第1および第2の欠陥検出工程によって検出された第1および第2の欠陥に関する情報を前記フィルム状被検査対象に記録若しくは添付する記録若しくは添付工程とを有することを特徴とするフィルムに対する欠陥検査方法。

F-Term (19)：

2G051AA41 , 2G051AB06 , 2G051BA01 , 2G051BA02 , 2G051BA04 , 2G051BA08 , 2G051BB07 , 2G051BC06 , 2G051CA03 , 2G051CA07 , 2G051CB01 , 2G051CB02 , 2G051CB05 , 2G051DA06 , 2G051DA15 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051EA14 , 2G051EB01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

機能フィルムの検査方法と検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-353937 Applicant：ソニー株式会社
移動表面の自動的な検査のための方法及び装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-507998 Applicant：スペクトラ-フィジックス・ビジョンテック・オイ
特開昭57-013340

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