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J-GLOBAL ID：200903044996995472

X線発生装置

Inventor： 大坂 尚久 ,  林 精一
Applicant, Patent owner： 理学電機株式会社
Agent (1)： 山本 寿武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996190704
Publication number (International publication number)：1998039097
Application date： Jul. 19, 1996
Publication date： Feb. 13, 1998
Summary：

【要約】【課題】 X線発生装置にX線光学制御素子を組み込むことにより、X線光学制御素子の耐久性を向上させるとともに、X線照射目的地点までのX線光路長を短縮できるようにして、出射したX線束の空気抵抗による減衰の抑制を図り、もって消費電力の低減を実現する。【解決手段】 密閉された装置本体100の内部に電子銃200と対陰極とを備え、電子銃200から発射した電子を対陰極に衝突させ、その際に該対陰極の表面から発生するX線束を取出窓112から外部へ出射する。この装置本体100の内部でかつ対陰極から発生したX線束の出力軌道上に、該X線束を制御するX線光学制御素子300を設け、該X線光学制御素子300により制御されたX線束を取出窓112へ導くようにする。

Claim (excerpt)：

密閉された装置本体の内部に電子銃と対陰極とを備え、前記電子銃から発射した電子を対陰極に衝突させ、その際に該対陰極の表面から発生するX線束を取出窓から外部へ出射するX線発生装置において、前記装置本体の内部でかつ前記対陰極から発生したX線束の出力軌道上に、該X線束を制御するX線光学制御素子を設け、該X線光学制御素子により制御されたX線束を前記取出窓へ導くようにしたことを特徴とするX線発生装置。

IPC (4)：

G21K 1/00 ,  G21K 1/06 ,  H01J 35/00 ,  H05G 1/00

FI (4)：

G21K 1/00 X ,  G21K 1/06 G ,  H01J 35/00 Z ,  H05G 1/00 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• X線評価装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-182474   Applicant：株式会社リコー
• 特開昭60-222036
  
• 分光素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-330670   Applicant：石川島播磨重工業株式会社