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J-GLOBAL ID:200903045640815603
電界効果トランジスタおよびその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
岩佐 義幸
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998220082
Publication number (International publication number):2000058560
Application date: Aug. 04, 1998
Publication date: Feb. 25, 2000
Summary:
【要約】【課題】 ばらつくことなく高い信頼性を確保して高出力電流を保ちつつ、ゲート-ドレイン耐圧を向上させることができる電界効果トランジスタおよびその製造方法を提供する。【解決手段】 ゲート-ドレイン電極間の素子表面を部分的に酸化して表面酸化層20を設けた。チャネル層13の上に、ソース電極14、ドレイン電極15及びゲート電極16を形成した後、ゲート-ドレイン電極間の下の空乏層のみを広げる空乏層拡大処理を行う。
Claim (excerpt):
ゲート-ドレイン電極間の素子表面を部分的に酸化して表面酸化層を設けたことを特徴とする電界効果トランジスタ。
IPC (3):
H01L 21/338
, H01L 29/812
, H01L 21/318
FI (2):
H01L 29/80 Q
, H01L 21/318 M
F-Term (15):
5F058BD04
, 5F058BD10
, 5F058BF02
, 5F058BH12
, 5F058BH13
, 5F058BJ04
, 5F102FA01
, 5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GJ05
, 5F102GR04
, 5F102GR13
, 5F102GS09
, 5F102GV05
, 5F102HC15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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特開平2-237123
-
特開昭62-286285
-
化合物半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-322087
Applicant:ローム株式会社
-
膜のスパッタリング形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願昭63-013529
Applicant:株式会社東芝
-
化合物半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-065766
Applicant:株式会社日立製作所
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