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J-GLOBAL ID：200903046797774540

有害材料判定方法および装置

Inventor：
野口 道子

About 野口 道子


Applicant, Patent owner：
富士通株式会社

About 富士通株式会社


Agent (2)： 土井 健二 ,  林 恒徳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006064516
Publication number (International publication number)：2007240377
Application date： Mar. 09, 2006
Publication date： Sep. 20, 2007
Summary：
【課題】各種材料、製品、部品よりなる被検体に、RoHS指令で規制対象となっている六価クロムが検出される可能性があるクロメート膜が存在する可能性の有無を、非破壊で迅速に検査・判定することが可能となる有害材料判定方法および装置を提供する。【解決手段】X線で励起した特性X線を用いてクロムの有無を検査し、クロムを検出した場合に、クロムがある特性値以下であり、アルミニウムがある特性値以上、銅がある特性値以上、亜鉛がある特性値以上、およびニッケルがある特性値以上の少なくともいずれか一つの条件が充足された場合に、クロメート膜が存在する可能性があると判定する。【選択図】なし
Claim (excerpt)：
被検体にクロメート膜が存在する可能性の有無を判定する有害材料判定方法であって、 X線で励起した特性X線を用いてクロムの有無を検査し、クロムを検出した場合に、クロムが特性値1以下であり、 アルミニウムが特性値2以上、 銅が特性値3以上、 亜鉛が特性値4以上、および ニッケルが特性値5以上 の少なくともいずれか一つの条件が充足された場合に、クロメート膜が存在する可能性があると判定する、有害材料判定方法。
IPC (2)：
G01N 23/223 ,  G01N 31/00
FI (2)：
G01N23/223 ,  G01N31/00 T
F-Term (23)：
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA06 ,  2G001FA02 ,  2G001FA06 ,  2G001FA29 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA01 ,  2G001LA02 ,  2G001LA20 ,  2G001MA05 ,  2G001NA06 ,  2G001NA10 ,  2G001NA11 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G001RA01 ,  2G001RA10 ,  2G001RA20 ,  2G042AA01 ,  2G042BC06
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 微小部蛍光X線分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-139667   Applicant：株式会社島津製作所
  • X線分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-218126   Applicant：日本電子エンジニアリング株式会社
Cited by examiner (6)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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