放射線位置検出方法及び装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： , ,
Agent (3)：高矢諭 , 松山圭佑 , 牧野剛博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005282866
Publication number (International publication number)：2007093376
Application date： Sep. 28, 2005
Publication date： Apr. 12, 2007
Summary：

【課題】受光素子固有の不感領域の存在による検出能の制限を克服し、シンチレータ結晶より少ない数の受光素子を用いて、各シンチレータ結晶の発光強度を検出可能とする。【解決手段】複数のシンチレータが配列された多面体からなるシンチレータブロックと、放射線の入射によるシンチレータの発光を、光学接合するシンチレータを通して受光する受光素子を含む放射線検出器で、発光したシンチレータの位置と吸収された放射線のエネルギを検出するための放射線位置検出方法であって、異なるシンチレータと光学接合し且つ少なくとも一つの面内に不感領域を有する2群以上の受光素子を複数のシンチレータを通る径路の両端に設け、各シンチレータの境界面や外周面の光の反射率や透過率を調整することにより、前記受光素子各群の受光量の配分を調整する。【選択図】図8

Claim (excerpt)：

複数のシンチレータが配列された多面体からなるシンチレータブロックと、放射線の入射によるシンチレータの発光を、光学接合するシンチレータを通して受光する受光素子を含む放射線検出器で、発光したシンチレータの位置と吸収された放射線のエネルギを検出するための放射線位置検出方法であって、異なるシンチレータと光学接合し且つ少なくとも一つの面内に不感領域を有する2群以上の受光素子を複数のシンチレータを通る径路の両端に設け、各シンチレータの境界面や外周面の光の反射率や透過率を調整することにより、前記受光素子各群の受光量の配分を調整することを特徴とする放射線位置検出方法。

IPC (5)：

G01T 1/20 , G01T 1/161 , G01T 1/164 , H01L 31/09 , H01L 27/14

FI (6)：

G01T1/20 G , G01T1/161 C , G01T1/164 A , G01T1/20 B , H01L31/00 A , H01L27/14 K

F-Term (22)：

2G088EE02 , 2G088FF04 , 2G088FF07 , 2G088GG16 , 2G088GG20 , 2G088JJ05 , 2G088JJ06 , 2G088JJ09 , 2G088KK24 , 2G088KK32 , 2G088KK35 , 4M118AA10 , 4M118AB01 , 4M118BA30 , 4M118CA01 , 4M118CB11 , 4M118GA10 , 4M118GD11 , 5F088BA01 , 5F088BB07 , 5F088JA17 , 5F088LA07

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

パルス波高整列放射線位置検出器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-300125 Applicant：日立化成工業株式会社, 独立行政法人放射線医学総合研究所, 浜松ホトニクス株式会社
特許第3597979号公報(図1、図9、図13)
放射線入射位置3次元検出器の発光位置特定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-306220 Applicant：科学技術庁放射線医学総合研究所長, 日立化成工業株式会社, 浜松ホトニクス株式会社

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Cited by examiner (13)

放射線入射位置3次元検出器の発光位置特定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-306220 Applicant：科学技術庁放射線医学総合研究所長, 日立化成工業株式会社, 浜松ホトニクス株式会社
特開昭63-047686
特許第6770884号

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