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J-GLOBAL ID:200903047351302439

光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 三澤 正義
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006349886
Publication number (International publication number):2008154941
Application date: Dec. 26, 2006
Publication date: Jul. 10, 2008
Summary:
【課題】被測定物体の深度方向における計測位置の位置合わせを容易に行える光画像計測装置を提供する。【解決手段】眼底観察装置1(光画像計測装置)は、低コヒーレンス光L0を眼底Efに向かう信号光LSと参照ミラー174に向かう参照光LRとに分割し、眼底Efを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRとを重畳させて干渉光LCを生成し、この干渉光LCを検出してOCT画像を形成する。解析部231は、このOCT画像の信号レベルを算出し、この信号レベルが閾値を超えるか判断する。制御部210は、参照ミラー駆動機構243を制御し、解析部231により信号レベルが閾値を超えると判断されるように参照ミラー174の位置を変更させる。また、制御部210は、眼底Efの所定深度位置に相当する部分画像がフレーム内の特定位置に配置されるように参照ミラー174の位置を変更する。【選択図】図7
Claim (excerpt):
低コヒーレンス光を出力する光源と、 該出力された低コヒーレンス光を被測定物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、前記被測定物体を経由した信号光と前記参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、 前記信号光と前記参照光との光路長差を変更する変更手段と、 前記生成された干渉光を検出する検出手段と、 該検出手段による検出結果に基づいて画像を形成する画像形成手段と、 該形成された画像を解析して当該画像の信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比を算出し、該算出された信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えるか判断する解析手段と、 前記変更手段を制御し、前記解析手段により前記信号レベル又は信号レベル対ノイズレベル比が閾値を超えると判断されるように前記光路長差を変更させる制御手段と、 を備えることを特徴とする光画像計測装置。
IPC (3):
A61B 3/12 ,  A61B 3/10 ,  A61B 3/14
FI (3):
A61B3/12 E ,  A61B3/10 R ,  A61B3/14 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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