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J-GLOBAL ID：200903047589534982

微粒子測定方法及び装置

Inventor：
秋葉 龍郎

About 秋葉 龍郎


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007064314
Publication number (International publication number)：2008224465
Application date： Mar. 14, 2007
Publication date： Sep. 25, 2008
Summary：
【課題】 同じタイミングで撮像した複数の微粒子画像を容易、安価に取得することができる微粒子測定装置を提供する。 【解決手段】 光透過性を有する測定領域12を備え微粒子を含む流体が通過可能な流路管10と、流路管10に流体を供給する供給手段14と、測定領域12内を撮像して複数の微粒子画像を取得する複数の撮像手段20,30と、供給手段14及び撮像手段20,30の作動を制御する制御手段50とを備え、制御手段50は、測定領域12内の流体の流れを一時的に停止した状態で、複数の微粒子画像を同時に撮像する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
光透過性を有する測定領域を備えた流路管に、微粒子を含む流体を供給する供給ステップと、 前記測定領域内の流体の流れを一時的に停止した状態で、複数の撮像手段により前記測定領域内を同時に撮像し、微粒子画像を複数取得する撮像ステップとを備える微粒子測定方法。
IPC (3)：
G01N 15/14 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/64
FI (4)：
G01N15/14 G ,  G01N15/14 A ,  G01N21/27 A ,  G01N21/64 Z
F-Term (19)：
2G043AA01 ,  2G043CA04 ,  2G043EA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043LA03 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB05 ,  2G059CC19 ,  2G059DD12 ,  2G059EE07 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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