Pat
J-GLOBAL ID:200903048957340324

暗視野式微粒子測定装置および暗視野式微粒子測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003436143
Publication number (International publication number):2005164560
Application date: Nov. 28, 2003
Publication date: Jun. 23, 2005
Summary:
【課題】 可視光の波長より小さなサブミクロン微粒子のブラウン運動を可視化して、個々の粒子の位置および移動量を測定し、粒径及び粘性係数を計測できる暗視野式微粒子計測装置および暗視野式微粒子計測方法を提供すること。【解決手段】 光源3からの光束をコレクタレンズ4にて集光し、これを円筒型の輪帯光を輪帯光学系5にて形成してコンデンサレンズ6にて微粒子を含む標本液体に集光する。コンデンサレンズ6の焦点距離より長い焦点距離を有する対物レンズ8にて標本体7からの散乱光を受光する。対物レンズ8からの像を投影光学系9にて増倍し、CCDセンサー10にて受光する。得られた暗視野画像を、画像処理流速計11にて計測し、粒子の数と位置および移動量を算出する。演算回路12にてブラウン運動に関するアインシュタイン・ストークスの関係式に粒子の平均移動距離とCCDセンサーのフィールド時間間隔を用いた拡散時間を代入して粒子径を算出し、表示装置13にて表示する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
光源と、 上記光源からの光束を集光するコレクタレンズと、 上記コレクタレンズからの光束を円筒型の輪帯光に形成する輪帯光学系と、 上記輪帯光学系からの光束を集光するコンデンサレンズと、 上記コンデンサレンズの焦点に設置する標本と、 上記コンデンサレンズの焦点距離より長い焦点距離を有する対物レンズと、 上記対物レンズからの像を拡大する投影光学系と、 上記投影レンズからの像を受光するCCDセンサーと、 上記CCDセンサーからの像を画像解析し微粒子の数および移動量を求める画像処理流速計と、 上記画像処理流速計からの信号を解析し粒子の速度および粒径を求める演算回路と、 上記画像処理流速計および演算回路から粒子挙動に関する統計量を出力する出力装置を有する暗視野式微粒子計測装置。
IPC (2):
G01N15/02 ,  G01N11/00
FI (2):
G01N15/02 B ,  G01N11/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

Return to Previous Page