散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：藤本英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996021932
Publication number (International publication number)：1997189653
Application date： Jan. 11, 1996
Publication date： Jul. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】光検出器の光軸中心部に十分近接して散乱光受光素子を設けても光軸合わせを確実行うことができる散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法を提供すること。【解決手段】光源1と光検出器16とを結ぶ光軸上に回折光発生手段15を設け、この回折光発生手段15によって発生する回折光を用いて光軸調整を行うようにした。

Claim (excerpt)：

光源と光検出器とを結ぶ光軸上に回折光発生手段を設け、この回折光発生手段によって発生する回折光を用いて光軸調整を行うようにしたことを特徴とする散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法。

IPC (2)：

G01N 15/02 , G01N 21/47

FI (2)：

G01N 15/02 A , G01N 21/47 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

粒度分布測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-022259 Applicant：株式会社小野測器
特開昭62-100637
粒度分布測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-073889 Applicant：日機装株式会社

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