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J-GLOBAL ID：200903050124375471

波長計測装置

Inventor：
佐野 安一

About 佐野 安一

, 
平山 紀友

About 平山 紀友


Applicant, Patent owner：
富士電機システムズ株式会社

About 富士電機システムズ株式会社


Agent (1)： 森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002326861
Publication number (International publication number)：2004163156
Application date： Nov. 11, 2002
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：
【課題】組み立て・調整を極力不要にするような構成を採用し、しかも、従来よりも高精度で広範囲な波長計測を可能にする波長計測装置を提供する。【解決手段】ブラッグ回折格子からの反射光(透過光)を光ファイバ40を介してC&BFBG10に入射させ、このC&BFBG10により分光された光を、光導波路クラッド21・集光部22を介して受光器30が受光し、感度が異なる第1,第2検出器アレイ31,32の受光素子による光電流の比の対数に基づいて反射光(透過光)の波長を測定する波長計測装置とした。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
測定光が入射される光ファイバ、光導波路または平面光導波路に一以上のブラッグ回折格子が形成され、前記ブラッグ回折格子からの反射光あるいは透過光の波長を検出して前記ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムにおいて、 前記ブラッグ回折格子からの反射光または透過光を、チャープドアンドブレーズドブラッグ回折格子に入射させ、このチャープドアンドブレーズドブラッグ回折格子により分光された光を、その焦点位置に配置され、かつ波長に対する感度が異なる第1,第2の検出器アレイによって受光し、これらの第1,第2の検出器アレイのそれぞれの受光素子による光電流の比の対数に基づいて前記反射光または透過光の波長を測定することを特徴とする波長計測装置。
IPC (4)：
G01D5/26 ,  G01B11/16 ,  G01K11/12 ,  G01L1/24
FI (4)：
G01D5/26 D ,  G01B11/16 G ,  G01K11/12 H ,  G01L1/24 A
F-Term (46)：
2F056VF09 ,  2F056VF12 ,  2F056VF16 ,  2F056VF17 ,  2F065AA65 ,  2F065FF48 ,  2F065GG04 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ25 ,  2F065LL01 ,  2F065LL02 ,  2F065LL21 ,  2F065LL37 ,  2F065LL42 ,  2F065LL46 ,  2F065LL67 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F103BA41 ,  2F103CA08 ,  2F103EB02 ,  2F103EB12 ,  2F103EB16 ,  2F103EC08 ,  2F103EC09 ,  2F103EC13 ,  2F103EC14 ,  2F103EC16 ,  2F103ED01 ,  2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020BA20 ,  2G020CA12 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC06 ,  2G020CD12 ,  2G020CD13 ,  2G020CD16 ,  2G020CD24 ,  2G020CD36
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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