眼軸長測定装置

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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006350681
Publication number (International publication number)：2008161218
Application date： Dec. 26, 2006
Publication date： Jul. 17, 2008
Summary：

【課題】被検眼の状態に応じた眼軸長測定を効率よく行う。【解決手段】被検眼の眼軸長を非接触にて光学的に測定する非接触式眼軸長測定手段と、超音波プローブを被検眼角膜に接触させた状態で被検眼の眼軸長を測定する超音波式眼軸長測定手段と、前記非接触式眼軸長測定手段を用いて測定を行う第1測定モードと前記超音波眼軸長測定手段を用いて測定を行う第2測定モードとを自動もしくは手動にて切換えるモード切換手段と、前記第1測定モード及び第2測定モードにて得られた測定結果を表示する表示手段と、を備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被検眼の眼軸長を非接触にて光学的に測定する非接触式眼軸長測定手段と、超音波プローブを被検眼角膜に接触させた状態で被検眼の眼軸長を測定する超音波式眼軸長測定手段と、前記非接触式眼軸長測定手段を用いて測定を行う第1測定モードと前記超音波眼軸長測定手段を用いて測定を行う第2測定モードとを自動もしくは手動にて切換えるモード切換手段と、前記第1測定モード及び第2測定モードにて得られた測定結果を表示する表示手段と、を備えることを眼軸長測定装置。

IPC (2)：

A61B 3/10 , A61B 8/10

FI (3)：

A61B3/10 Z , A61B3/10 U , A61B8/10

F-Term (4)：

4C601BB01 , 4C601DD13 , 4C601EE09 , 4C601LL33

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

眼科用超音波診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-000183 Applicant：株式会社ニデック
眼科測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-165372 Applicant：株式会社ニデック
生体眼計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-002741 Applicant：株式会社トプコン

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Cited by examiner (5)

生体眼計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-002741 Applicant：株式会社トプコン
眼屈折力測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-309349 Applicant：株式会社ニデック
特開平2-004310

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