眼科測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004165372
Publication number (International publication number)：2005342204
Application date： Jun. 03, 2004
Publication date： Dec. 15, 2005
Summary：

【課題】簡単な構成で被検眼の眼軸長と屈折力の測定を短時間で同時に行うことができる眼科測定装置を提供する。【解決手段】被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の測定光を照射する測定光照射光学系と、測定光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した前記反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、被検眼に向けて低コヒーレンスな光を被検眼に照射するとともに照射によって得られる被検眼の角膜の反射光を参照光とし,参照光と測定光照射光学系によって得られる被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,その干渉光を受光する干渉光学系と、干渉光学系にて得られる干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定手段と、を備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の測定光を照射する測定光照射光学系と、前記測定光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した前記反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、被検眼に向けて低コヒーレンスな光を被検眼に照射するとともに該照射によって得られる前記被検眼の角膜の反射光を参照光とし,該参照光と前記測定光照射光学系によって得られる前記被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,その干渉光を受光する干渉光学系と、該干渉光学系にて得られる干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定手段と、を備えることを特徴とする眼科測定装置。

IPC (1)：

A61B3/10

FI (2)：

A61B3/10 Z , A61B3/10 M

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

被測定眼寸法測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-048523 Applicant：株式会社トプコン
眼科用測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-152270 Applicant：株式会社トプコン
眼科用測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-152271 Applicant：株式会社トプコン

Show all

Return to Previous Page