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J-GLOBAL ID：200903050200509466

眼に対する光多重ショートコヒーレンス干渉測定方法および配置

Inventor：
アドルフ フリードリッヒ フェルヒェル

About アドルフ フリードリッヒ フェルヒェル


Applicant, Patent owner：
カール ツアイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト

About カール ツアイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト


Agent (1)： 松田 省躬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002239995
Publication number (International publication number)：2003093346
Application date： Aug. 21, 2002
Publication date： Apr. 02, 2003
Summary：
【要約】【課題】多チャンネルのショートコヒーレンス干渉法による眼の内部構造、特に眼の中で結像に重要な要素である角膜、水晶体、硝子体、網膜表面構造の測定および描画に関する、多くの部分光線から成る空間的コヒーレントな、あるいは空間的部分コヒーレントな光線を用いることにより深さ方向の走査の同時記録が可能である解決法【解決手段】空間的コヒーレントな、あるいは空間的部分コヒーレントな光源を用いて多数同時に記録する干渉法により、瞳孔内で横方向に隣接する点を通して深さ方向に走査することによって眼の構造のトポグラムおよび断層図を得るため、深さ方向の走査は干渉計の測定アームの光学長を後方誘導反射器によって変化させて行ない、後方誘導反射器の連続的な移動により現われる干渉を用いて眼中の光線反射場所のz位置を決定し、記録する方法および配置。
Claim (excerpt)：
多数同時に記録するショートコヒーレンス干渉法により、瞳孔内で横方向に隣接する点を通して深さ方向に走査することによって、眼の構造のトポグラムおよび断層図を得るための方法および配置であって、干渉計測定アームにある空間的コヒーレントな、あるいは空間的部分コヒーレントな光源(1、37、42)の横方向に拡がった1次測定像(18)を用いて、ショートコヒーレンス干渉法による眼の深さ方向の走査を実行し、さらに干渉計参照アームにある空間的コヒーレントな、あるいは空間的部分コヒーレントな光源の1次参照像(88、108)を生成し、干渉計出力部にある両方の1次像を、横方向に隣接した瞳孔点から同時発生する深さ方向の光電走査信号を検出するための1次元あるいは2次元の光検出器アレイ(11、110)上へ重なり合った2次的な像として結像させることを特徴とする方法および配置。
FI (2)：
A61B 3/10 Z ,  A61B 3/10 R
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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