Pat

J-GLOBAL ID：200903050352220518

多心テープ光ファイバの表面状態観測方法、表面異状検出方法および表面状態測定装置

Inventor： 橋本 健 ,  茂原 政一
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 石井 康夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997050209
Publication number (International publication number)：1998246616
Application date： Mar. 05, 1997
Publication date： Sep. 14, 1998
Summary：

【要約】【課題】 走行する多心テープ光ファイバの表面の凹凸状態を観測でき、凹凸異常部の検出もできる多心テープ光ファイバの表面状態観測方法を提供する。【解決手段】 投光部10からテープ1の表面に投射光4を投射する。受光部20は正反射光6を受光しない角度に取り付けられ、テープ表面に異常部があった場合に正反射光6とは異なる角度で反射される反射光7を対物レンズ21で取り込み、CCDを用いたセンサ23で受光して、異常部のみの反射光の画像情報を得ることができる。この画像情報を画像処理装置により処理することによって、輝度の大きい部分の面積、個数を算出して、表面状態の凹凸、気泡の位置、大きさを知ることができる。

Claim (excerpt)：

多心テープ光ファイバの表面に入射光を所定の角度で反射するように入射させ、前記所定の角度以外の反射光を観測することにより前記多心テープ光ファイバの表面の凹凸状態を観測することを特徴とする多心テープ光ファイバの表面状態観測方法。

IPC (4)：

G01B 11/30 ,  G01M 11/00 ,  G01N 21/88 ,  G02B 6/00

FI (4)：

G01B 11/30 Z ,  G01M 11/00 G ,  G01N 21/88 D ,  G02B 6/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 表面変形検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-151251   Applicant：株式会社ニレコ
• 表面状態検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-160012   Applicant：キヤノン株式会社
• ハードディスクの欠陥検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-066995   Applicant：グローリー工業株式会社