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J-GLOBAL ID:200903050618198424

構造物の内部欠陥検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 曾我 道照 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001385776
Publication number (International publication number):2003185608
Application date: Dec. 19, 2001
Publication date: Jul. 03, 2003
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、作業者の勘に頼らない定量的な評価ができるとともに、検査に要するコストを大幅に低減でき、さらに従来の赤外線カメラを用いた検査方法を含めた非接触検査方法と比べて深い欠陥の検査ができることを課題とする。【解決手段】 本発明の構造物の内部欠陥検出装置は、構造物に赤外線を照射して温度分布を測定することにより、構造物の内部欠陥を検出する構造物の内部欠陥検出装置において、前記構造物に前記赤外線を照射する前記赤外線照射手段は、照射強度分布特性を均一化する赤外線反射板と、前記赤外線反射板の角度を調整可能にする角度調整手段とを備え、波長1μm〜50μmの赤外線を前記構造物に均一に照射する構成である。
Claim (excerpt):
構造物に赤外線を照射して温度分布を測定することにより、構造物の内部欠陥を検出する構造物の内部欠陥検出装置において、前記構造物に前記赤外線を照射する前記赤外線照射手段は、照射強度分布特性を均一化する赤外線反射板と、前記赤外線反射板の角度を調整可能にする角度調整手段とを備え、波長1μm〜50μmの赤外線を前記構造物に均一に照射することを特徴とする構造物の内部欠陥検出装置。
F-Term (16):
2G040AA07 ,  2G040AB08 ,  2G040BA02 ,  2G040BA14 ,  2G040BA16 ,  2G040BA26 ,  2G040CA02 ,  2G040CA12 ,  2G040CA23 ,  2G040DA06 ,  2G040DA12 ,  2G040DA25 ,  2G040EA06 ,  2G040EB02 ,  2G040HA02 ,  2G040HA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (4)
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