検出装置、及びイメージング装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：加藤一男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007092831
Publication number (International publication number)：2008249577
Application date： Mar. 30, 2007
Publication date： Oct. 16, 2008
Summary：

【課題】コヒーレント電磁波源をも用いることができて、精密な測定が可能な検出装置及びイメージング装置を提供する。【解決手段】検出装置は、発生部101、第1カプラ部104、遅延部106、第2カプラ部104、信号処理部108を有する。発生部101は、コヒーレント電磁波源102と拡散部103を含み、拡散部103は、符号パターンで電磁波源102の電磁波の伝播状態を変化させて擬似的にインコヒーレントな電磁波を生成する。第1カプラ部104は、発生部101からの電磁波を分岐する。遅延部106は、電磁波の伝播状態を変化させて伝播時間を遅延させる。第2カプラ部104は、測定対象105で伝播状態が変化した電磁波と、遅延部106からの電磁波を合流させて両者間の相関をとる。検出部107は、第2カプラ部104からの電磁波の信号を検出する。信号処理部108は、遅延部106の遅延量と検出部107の検出信号強度に基づいて、測定対象105の情報を取得する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

インコヒーレントな電磁波を生成する発生部と、前記インコヒーレントな電磁波を分岐する第1カプラ部と、前記第1カプラ部で分岐される前記インコヒーレントな電磁波の伝播状態を変化させて伝播時間を遅延させる遅延部と、前記第1カプラ部で分岐され測定対象によって伝播状態が変化した電磁波と、前記第1カプラ部で分岐され前記遅延部により伝播状態が変化した電磁波とを合流させて両者間の相関をとる第2カプラ部と、前記第2カプラ部により合流したインコヒーレントな電磁波の信号を検出する検出部と、前記遅延部による遅延量と前記検出部による検出信号の強度に基づいて、前記測定対象の情報を取得する信号処理部と、を有し、前記発生部は、コヒーレントな電磁波を発生する電磁波源と、拡散部とを含み、前記拡散部は、時系列的に変化する符号パターンで前記電磁波源より発生するコヒーレントな電磁波の伝播状態を変化させて擬似的にインコヒーレントな電磁波を生成する、ことを特徴とする検出装置。

IPC (3)：

G01N 21/35 , G01N 21/17 , H01S 3/10

FI (3)：

G01N21/35 Z , G01N21/17 630 , H01S3/10 Z

F-Term (19)：

2G059FF02 , 2G059GG01 , 2G059GG07 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ13 , 2G059JJ17 , 2G059JJ22 , 2G059JJ24 , 2G059KK04 , 2G059KK09 , 2G059MM01 , 2G059MM03 , 2G059MM04 , 5F172AE26 , 5F172NQ70 , 5F172NR04 , 5F172NR06 , 5F172ZZ13

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

物品の検査方法とその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-242626 Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
特公平06-035946号公報

Cited by examiner (3)

光断層画像化装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-286690 Applicant：富士写真フイルム株式会社
光計測システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-274123 Applicant：科学技術振興事業団
光干渉断層計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-093497 Applicant：株式会社スペクトラテック

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