画像分析方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：石橋佳之夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995246081
Publication number (International publication number)：1997092195
Application date： Sep. 25, 1995
Publication date： Apr. 04, 1997
Summary：

【要約】【課題】観察対象に凹凸があっても対象面を平坦に加工することなくその画像を分析することができ、対物レンズを所定の範囲で1回だけ移動させれば分析に必要な画像を取り込むことを可能にした画像分析方法を得る。【解決手段】静止物体からカメラまでの距離を変えながら複数枚の画像データを得、この複数枚の画像データの中から、静止物体の凸から凹までの画像データを含む画像データを合成して1枚の画像データとし、この1枚の画像データを画像処理に供して画像分析を行う。複数枚の画像データの変化を逐次検知して変化部分の画像データのみを残し、残った画像データを合成して1枚の画像データとし、この1枚の画像データを画像処理に供して画像分析を行うようにしてもよい。

Claim (excerpt)：

静止物体からカメラまでの距離を変えながら複数枚の画像データを得、この複数枚の画像データの中から、静止物体の凸から凹までの画像データを含む画像データを合成して1枚の画像データとし、この1枚の画像データを画像処理に供して画像分析を行うことを特徴とする画像分析方法。

IPC (2)：

H01J 37/26 , G06T 1/00

FI (3)：

H01J 37/26 , G06F 15/62 380 , G06F 15/64 330

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

光学顕微鏡装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-350992 Applicant：株式会社荏原製作所
電子線装置および走査電子顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-106405 Applicant：株式会社日立製作所
特開平1-160262

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