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J-GLOBAL ID:200903051772135962

探査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999135941
Publication number (International publication number):2000329859
Application date: May. 17, 1999
Publication date: Nov. 30, 2000
Summary:
【要約】【課題】 STC信号を生成する回路も、STC信号によって増幅率を変化させる可変増幅装置も用いずに、近傍および遠方の対象物からの反射信号を飽和せずに取得、表示することができる探査装置を提供する。【解決手段】 本発明の探査装置は、地中に電磁波を放射する送信アンテナ22と、地中の埋設物からの反射電磁波を受信する受信アンテナ23と、受信信号を異なる倍率で増幅する1つ以上の増幅装置24、25、26と、増幅信号を記憶する2つ以上の記録装置27、28、29と、2つ以上の記録装置で記憶した信号に応じていずれかを選択する制御装置30と、選択信号を表示する表示器31と、から成る。したがって、近傍および遠方の対象物Bからの反射信号を飽和せずに取得、表示することができ、STC回路を省略でき、安価に回路を構成することができる。
Claim (excerpt):
波を放射する送信器と、対象物からの反射波を受信する受信器と、該受信器からの受信信号を異なる倍率で増幅する1つ以上の増幅装置と、該増幅装置からの増幅信号を記憶する2つ以上の記録装置と、前記2つ以上の記録装置に記憶した記憶信号に応じていずれかの記録装置の記憶信号を選択する制御装置と、該制御装置で選択した選択信号を表示する表示装置と、を備えることを特徴とする探査装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 特開昭63-154911
  • 分析装置の検出信号処理装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-353741   Applicant:株式会社島津製作所
  • 変位測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-260024   Applicant:アンリツ株式会社
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