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J-GLOBAL ID:200903053946671543
分析装置の検出信号処理装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
野口 繁雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995353741
Publication number (International publication number):1997184823
Application date: Dec. 28, 1995
Publication date: Jul. 15, 1997
Summary:
【要約】【課題】 ダイナミックレンジの大きい入力信号を簡単な構成により検出できるようにする。【解決手段】 前置増幅器2の出力が互いに異なる増幅率で並列接続された増幅器4-1と4-2に入力され、それらの増幅器4-1,4-2で増幅された信号出力はそれぞれ12ビットのA/D変換器6-1と6-2に入力され、それぞれ12ビットのデジタル信号に変換される。A/D変換器6-1,6-2の出力は24ビットのデータ入力をもつDSP8の下位12ビットの入力D0〜D11と上位12ビットの入力D12〜D23としてそれぞれ入力され、同じにデータ処理される。DSP8からは増幅器4-2での増幅率n倍の測定信号と、増幅器4-1での増幅率m倍の測定信号とがともにデジタル信号処理されて出力され、入力信号のレンジに応じて最適な方を使用することにより、入力信号のダイナミックレンジが拡大される。
Claim (excerpt):
分析装置の検出信号を入力して互いに異なる増幅率で増幅する並列接続された複数個の増幅器と、前記増幅器の出力側にそれぞれ接続された同数個のA/D変換器と、前記複数個のA/D変換器のデジタル信号出力を互いに異なる入力として同時に入力する1個のデジタル信号処理専用高速プロセッサとを備え、前記デジタル信号処理専用高速プロセッサによって、これらの複数の入力データを処理することを特徴とする検出信号処理装置。
IPC (3):
G01N 27/62
, G01N 27/00
, G01N 30/86
FI (3):
G01N 27/62 B
, G01N 27/00 E
, G01N 30/86 L
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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特開昭60-016709
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微粒子検出回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-262897
Applicant:日立電子エンジニアリング株式会社
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特開平2-246943
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分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-357909
Applicant:株式会社島津製作所
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異物検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-280702
Applicant:株式会社トプコン
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