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J-GLOBAL ID:200903051914255553

視線計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人グローバル知財
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008156229
Publication number (International publication number):2009297323
Application date: Jun. 16, 2008
Publication date: Dec. 24, 2009
Summary:
【課題】実際に視線計測を行う前に行われるキャリブレーションを行わずに視線計測を行うことができる視線計測装置の提供【解決手段】視線計測装置は、所定の画面を見ている被験者について所定の光源からの光が反射した眼球の画像である眼球画像を取得し、前記眼球画像から、角膜の曲率中心と瞳孔の瞳孔中心とを結ぶ軸である光軸を算出し、ある時刻において、一の眼球及び他の一の眼球それぞれの光軸と視軸との間のずれ候補の初期値を設定し、他の時刻において、前記一の眼球及び前記他の一の眼球について、当該他の時刻において算出した光軸及び前記ある時刻において設定した前記ずれ候補を用いて、新たなずれ候補を算出し、算出したずれ候補から一の眼球及び他の一の眼球それぞれの光軸と視軸との間の最適なずれを決定し、前記光軸と前記視軸との間のずれに基づき、被験者の前記画面上での注視点を算出する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
所定の画面を見ている被験者について所定の光源からの光が反射した眼球の画像である眼球画像を取得する眼球画像取得手段、 前記眼球画像から角膜の曲率中心位置を算出する角膜曲率中心位置算出手段、 前記曲率中心位置に基づき、前記角膜の曲率半径を算出する曲率半径算出手段、 前記曲率半径に基づき、瞳孔の中心位置を算出する瞳孔中心位置算出手段、 前記角膜の曲率中心位置及び前記瞳孔の中心位置に基づき、角膜の曲率中心と瞳孔の瞳孔中心とを結ぶ軸である光軸を算出する光軸算出手段、 算出した前記光軸を利用して、当該光軸と、中心窩と角膜の曲率中心とを結ぶ軸である視軸との間のずれを算出するずれ算出手段、 前記光軸と前記視軸との間のずれに基づき、被験者の前記画面上での注視点を算出する注視点算出手段、 を有する視線計測装置であって、 前記ずれ算出手段は、 a)ある時刻において、 a1)一の眼球について、当該眼球に関する光軸-視軸間のずれ候補の初期値を設定し、 a2)当該一の眼球に関する光軸及び設定したずれ候補を用いて、当該一の眼球に関する視軸を算出し、 a3)算出した視軸を用いて、前記画面との交点を算出し、 a4)他の一の眼球について、当該眼球の光軸及び前記交点に基づき、当該眼球に関する光軸-視軸間のずれ候補を算出し、 b)他の時刻において、 b1)前記一の眼球の光軸-視軸間のずれ候補を用いて、当該一の眼球についての前記画面との交点を算出し、 b2)前記他の一の眼球に関する光軸-視軸間のずれ候補を用いて、当該他の一の眼球について前記画面との交点を算出し、 b3)前記一の眼球についての前記交点と前記他の一の眼球についての前記交点との間の距離を算出し、 c)さらに、 c1)前記一の眼球について、所定の範囲に含まれる、新たな当該眼球に関する光軸-視軸間のずれ候補を設定し、 c2)前記a2)〜a4)の処理、b)の処理、及びc1)の処理を、所定の範囲に含まれる前記一の眼球及び前記他の一の眼球についての光軸-視軸間のずれ候補の全てについて繰り返し実行し、 d)算出した距離の中から最小のもの抽出し、抽出した距離を算出するために用いた前記一の眼球及び前記他の一の眼球についての光軸-視軸間のずれ候補を、それぞれの眼球についての光軸-視軸間のずれと判断し、 前記注視点算出手段は、 前記他の時刻以降の時刻において、判断した前記一の眼球及び前記他の一の眼球についての光軸-視軸間のずれを用いて、前記注視点を算出すること、 を特徴とする視線計測装置。
IPC (2):
A61B 3/113 ,  G01B 11/26
FI (2):
A61B3/10 B ,  G01B11/26 H
F-Term (13):
2F065AA17 ,  2F065AA32 ,  2F065AA35 ,  2F065BB07 ,  2F065CC16 ,  2F065FF43 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ26
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (7)
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