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J-GLOBAL ID：200903052001595453

眼科用分析システム

Inventor：
ゲルト コースト

About ゲルト コースト


Applicant, Patent owner：
オクラス オプティクゲラーテ ゲーエムベーハー

About オクラス オプティクゲラーテ ゲーエムベーハー


Agent (1)： 石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004254715
Publication number (International publication number)：2005087729
Application date： Sep. 01, 2004
Publication date： Apr. 07, 2005
Summary：
【課題】 測定精度を上げることができる眼科用分析システムを提供すること。【解決手段】 本発明は、角膜組織の所定領域が照らされる投影デバイスを有し、それにより、角膜組織の厚さが観察システムの画像情報から分析デバイスにおいて導き出されるように、投影デバイス(02)は、角膜組織の照らされる領域が投影デバイスのビーム経路に関する角度で観察および記録できる観察システムと共働する、検査対象としての眼球上の角膜組織の厚さを測定するための眼科用分析システムに関する。第2の投影デバイスは、角膜組織の所定領域が照らされる分析システム上に設けられ、それにより、第2の投影デバイスは、角膜組織の曲率が分析デバイスにおいて第2の観察システムの画像情報から導き出されるように、角膜組織の照らされる領域が観察および記録される第2の観察システムと共働する。【選択図】 図6
Claim (excerpt)：
検査対象としての眼球(A)上の角膜組織の厚さを測定するための眼科用分析システム(01)であって、前記角膜組織の所定領域が照らされる投影デバイス(02)を有しており、前記投影デバイス(02)は、前記角膜組織の前記照らされる領域が、前記投影デバイス(02)のビーム経路を基準とする角度で、観察および記録される前記観察システム(03)と共働して、分析デバイスにおいて、前記角膜組織の厚さが、前記観察システム(03)の画像情報から導き出されるところの眼科用分析システムにおいて、 第2の投影デバイス(04、05、08)が、前記角膜組織の所定領域が照らされるところの前記分析システム(01)上に設けられ、前記第2の投影デバイス(04、05、08)は、前記角膜組織の前記照らされる領域が観察および記録されるところの第2の観察システム(09)と共働して、前記分析デバイスにおいて、前記角膜組織の曲率が、前記第2の観察システム(09)の画像情報から導き出されることを特徴とする分析システム。
IPC (5)：
A61B3/12 ,  A61B3/10 ,  A61F9/007 ,  G01B11/06 ,  G01B11/24
FI (5)：
A61B3/12 D ,  G01B11/06 H ,  A61F9/00 570 ,  G01B11/24 K ,  A61B3/10 H
F-Term (16)：
2F065AA30 ,  2F065AA46 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG13 ,  2F065HH03 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ19 ,  2F065LL04 ,  2F065LL28 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU01 ,  2F065UU07
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • 特開昭58-109028
  • 特公平6-059272
  • 眼の角膜プロファイルを測定する方法および装置
    Gazette classification：公表公報   Application number：特願2003-535633   Applicant：カール・ツアイス・オプサルミック・システムズ・インコーポレーテッド, カール・ツアイス・メディテック・アーゲー
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