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J-GLOBAL ID：200903052045552298

懸濁させた磁性微粒子の磁化率測定方法及び装置

Inventor：
渡會 仁

About 渡會 仁

, 
木村 恒久

About 木村 恒久


Applicant, Patent owner：
大阪大学長

About 大阪大学長


Agent (1)： 杉村 暁秀 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000261557
Publication number (International publication number)：2002071645
Application date： Aug. 30, 2000
Publication date： Mar. 12, 2002
Summary：
【要約】【課題】微小磁極片を用いて100マイクロメータ〜数100マイクロメータ程度の微少幅を隔てて領域に大きな磁場勾配中でキヤビラリー内の溶液中に磁性微小粒子の磁気泳動を引き起こし、微粒子の磁化率を決定することを目的とする。【解決手段】磁場勾配中に設置されたセル内の溶媒に懸濁させた磁化率未知の磁性微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定し、一方磁場勾配中に設置されたセル内の溶媒に懸濁させた磁化率既知の磁性微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定し、磁化率既知の微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定値に基づいて磁場分布を決定し、決定した磁場分布、磁化率未知の微粒子の磁気泳動速度および粒径の測定値に基づいて個々の微粒子の磁化率を決定することを特徴とする、磁性微粒子の磁化率測定方法。
Claim (excerpt)：
磁場勾配中に設置されたセル内の溶媒に懸濁させた磁性微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定し、測定した微粒子の磁気泳動速度および粒径、媒体の粘度および磁化率並びに測定磁気勾配に基づいて微粒子の磁化率を決定することを特徴とする、個々の微粒子の磁化率測定方法。
IPC (4)：
G01N 27/76 ,  G01N 15/02 ,  G01P 13/00 ,  G01B 11/10
FI (4)：
G01N 27/76 ,  G01N 15/02 B ,  G01P 13/00 E ,  G01B 11/10 H
F-Term (25)：
2F034AA07 ,  2F034DA11 ,  2F034DA15 ,  2F065AA26 ,  2F065BB05 ,  2F065BB15 ,  2F065CC00 ,  2F065DD06 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065HH13 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP12 ,  2F065PP24 ,  2F065QQ23 ,  2G053AB06 ,  2G053BA05 ,  2G053BA07 ,  2G053BA08 ,  2G053BC20 ,  2G053CB27 ,  2G053CB29
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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