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J-GLOBAL ID：200903052247755506

樹脂材料検査装置およびプログラム

Inventor：
廣瀬 修

About 廣瀬 修


Applicant, Patent owner：
住友化学株式会社

About 住友化学株式会社


Agent (1)： 特許業務法人原謙三国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008148065
Publication number (International publication number)：2009294087
Application date： Jun. 05, 2008
Publication date： Dec. 17, 2009
Summary：
【課題】樹脂シート間での厚みのばらつき、樹脂材料検査装置間での撮影装置の特性のばらつき、撮影装置の特性の経時変化等によらず、一定の検査基準で検査を行うことができる樹脂材料検査装置を提供する。【解決手段】樹脂材料検査装置は、ペレット状態の樹脂材料を加熱加圧成形することによって作製された検査用の樹脂シートの透過光像を撮影して画像データを得るエリアカメラ14と、画像データを解析して樹脂シートの欠陥を検出することによって樹脂材料の欠陥を検出する濃度・面積計測部39と、画像データの少なくとも一部の領域内における画素の平均輝度値と予め設定された基準輝度値とを比較する比較部33と、比較部33における比較の結果に基づいてエリアカメラ14の露光時間を変更する撮影装置制御部34とを備え、濃度・面積計測部39が、露光時間が変更された後のエリアカメラ14によって得られた画像データを解析する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
ペレット状態の樹脂材料を加熱加圧成形することによって作製された検査用の樹脂シートの透過光像を撮影して上記樹脂シートの画像データを得る撮影装置と、 上記樹脂シートの画像データを解析して上記樹脂シートの欠陥を検出することによって、上記樹脂材料の欠陥を検出する欠陥検出部とを備える樹脂材料検査装置であって、 上記樹脂シートの画像データの少なくとも一部の領域内における画素の平均輝度値と、予め設定された基準輝度値とを比較する比較部と、 上記比較部における比較の結果に基づいて、上記撮影装置の露光時間を変更する制御部とをさらに備え、 上記欠陥検出部が、露光時間が変更された後の撮影装置によって得られた画像データを解析することを特徴とする樹脂材料検査装置。
IPC (1)：
G01N 21/892
FI (1)：
G01N21/892 A
F-Term (14)：
2G051AA41 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB04 ,  2G051AB06 ,  2G051BC03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051EA24 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051EC04 ,  2G051ED09 ,  2G051ED21
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
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