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J-GLOBAL ID:200903052597740803

重合体、化学増幅型レジスト組成物、および、パターン形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 金田 暢之 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001368904
Publication number (International publication number):2002275215
Application date: Dec. 03, 2001
Publication date: Sep. 25, 2002
Summary:
【要約】【課題】 優れた透明性と高いドライエッチング耐性とを有し、有機溶媒に対する溶解性にも優れた重合体、遠紫外光エキシマレーザーリソグラフィーや電子線リソグラフィー等に好適な化学増幅型レジスト組成物、および、この化学増幅型レジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供する。【解決手段】 本発明の重合体は下記式(1)で示される単量体を含むモノマー組成物を(共)重合して得られるものであり、これを含有する化学増幅型レジスト組成物を用いてレジストパターンを形成する。【化1】(式(1)中、R1、R2、R3、R4は水素原子、メチル基またはエチル基であり、X1、X2はいずれか一方が(メタ)アクリロイルオキシ基であり、もう一方が水素原子である。A1、A2はともに水素原子であるか、または、A1とA2とで-O-、-CH2-または-CH2CH2-を形成している。)
Claim (excerpt):
下記式(1)で示される単量体を含むモノマー組成物を(共)重合して得られる重合体。【化1】(式(1)中、R1、R2、R3、R4は水素原子、メチル基またはエチル基であり、X1、X2はいずれか一方が(メタ)アクリロイルオキシ基であり、もう一方が水素原子である。A1、A2はともに水素原子であるか、または、A1とA2とで-O-、-CH2-または-CH2CH2-を形成している。)
IPC (3):
C08F 20/28 ,  G03F 7/039 601 ,  H01L 21/027
FI (3):
C08F 20/28 ,  G03F 7/039 601 ,  H01L 21/30 502 R
F-Term (29):
2H025AA00 ,  2H025AA02 ,  2H025AA09 ,  2H025AB16 ,  2H025AC06 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BE10 ,  2H025BG00 ,  2H025CB10 ,  2H025CB14 ,  2H025CB41 ,  2H025CB55 ,  4J100AJ02R ,  4J100AK32R ,  4J100AL08P ,  4J100AL08Q ,  4J100AL08R ,  4J100BA03R ,  4J100BA11P ,  4J100BA11Q ,  4J100BA11R ,  4J100BC09R ,  4J100BC53P ,  4J100BC53Q ,  4J100BC53R ,  4J100DA01 ,  4J100JA38
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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