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J-GLOBAL ID:200903053270257730

自己診断装置および自己診断機能付分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 森田 雄一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003348920
Publication number (International publication number):2005114541
Application date: Oct. 08, 2003
Publication date: Apr. 28, 2005
Summary:
【課題】 欠測を生じさせることなく、測定中に測定機能の診断を可能とする自己診断装置、および、その自己診断装置を搭載した自己診断機能付分析装置とする。 【解決手段】 自己診断装置の発光部から照射する光線の光量が所定変化率(100%→50%→0%)で変化する場合に、散乱光受光部・透過光受光部から出力される検出信号も所定変化率で(100%→50%→0%)変化するか否かについて判断し、変化率が異なる場合には測定機能に異常があると判断する自己診断装置および自己診断機能付分析装置とした。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
試料に光線を照射する発光部と、 光線を受光する受光部と、 発光部および受光部が接続される中央処理部と、 を備え、分析装置の測定機能を診断する自己診断装置であって、 中央処理部は、 発光部から照射する光線の光量を変化させる制御駆動信号を出力する出力手段と、 受光部で受光した光線の光量に比例する検出信号を入力する入力手段と、 検出信号に基づいて発光部と受光部との光線の授受が正常か異常かについて判断する判断手段と、 として機能することを特徴とする自己診断装置。
IPC (1):
G01N21/49
FI (1):
G01N21/49 A
F-Term (13):
2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB06 ,  2G059CC19 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF09 ,  2G059GG06 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059MM14 ,  2G059MM19 ,  2G059PP03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (8)
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