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J-GLOBAL ID：200903053446704666

検体を分析および決定する方法

Inventor：
フィリップ・フレデリクス

About フィリップ・フレデリクス

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グスターフ・ボルフス

About グスターフ・ボルフス

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ジャン-ミシェル・フリード

About ジャン-ミシェル・フリード


Applicant, Patent owner：
アンテルユニヴェルシテール・ミクロ-エレクトロニカ・サントリュム・ヴェー・ゼッド・ドゥブルヴェ

About アンテルユニヴェルシテール・ミクロ-エレクトロニカ・サントリュム・ヴェー・ゼッド・ドゥブルヴェ


Agent (1)： 青山 葆 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002371993
Publication number (International publication number)：2003240710
Application date： Dec. 24, 2002
Publication date： Aug. 27, 2003
Summary：
【要約】【課題】 非常に高感度な検体を評価分析する方法を提供する。【解決手段】 本発明は、検体を検出する、改良された方法を開示する。本発明は、より高感度な、非常に低濃度の検体を検出可能な検出装置のために、用いることが出来る。前記方法は、以下のステップを含む。基板を設けること。前記基板は伝導領域および認識層を含み、前記伝導領域は少なくとも第1表層および第2表層を有し、前記第1表層が前記認識層と有効に関連している。前記基板を、相互作用が前記検体および前記認識層の間で起こるように、前記検体に従属させること。前記放射が、前記伝導領域および前記認識層上に入射するよう、前記伝導領域および前記認識層を通して放射させること。検体の存在を決定するために、波長の関数として、前記基板によって吸収もしくは放出された、前記放射の強度を計ること。
Claim (excerpt)：
サンプル内の検体を分析および決定する方法であって、基板を設けるステップであって、前記基板は伝導領域および認識層を含み、前記伝導領域は少なくとも第1表層および第2表層を有し、前記第1表層が前記認識層と有効に関連しているステップと、前記基板を、相互作用が前記検体および前記認識層の間で起こるように、前記検体に従属させるステップと、前記伝導領域および前記認識層を通して放射させるステップと、検体の存在を決定するために、波長の関数として、前記基板によって吸収もしくは放出された、前記放射の強度を計るステップとを含む検体を分析および決定する方法。
IPC (3)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/543 595
FI (3)：
G01N 21/27 C ,  G01N 21/64 G ,  G01N 33/543 595
F-Term (23)：
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043JA04 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA09 ,  2G043NA01 ,  2G059AA01 ,  2G059CC16 ,  2G059DD13 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 米国特許第5,641,640号明細書
  • 米国特許第6,330,464号明細書
Cited by examiner (4)
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