Pat
J-GLOBAL ID:200903054004031235
処理装置及びそのクリーニング方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
木村 満 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000240292
Publication number (International publication number):2002057149
Application date: Aug. 08, 2000
Publication date: Feb. 22, 2002
Summary:
【要約】【課題】 正確な終点検出の可能な処理装置のドライクリーニング方法を提供する。【解決手段】 クリーニング中の、チャンバ圧、物質濃度又は堆積膜の厚さを測定、モニターするためのセンサを装置11内に設け、センサからのデータを基に終点を検出する。または、チャンバ11内にプラズマを部分的に発生させて、このプラズマの発光強度をモニターして終点を検出する。或いは、チャンバ内に光を照射し、チャンバ内を通過した光を測定、モニターして終点を検出する。
Claim (excerpt):
被処理体に所定の処理を施す処理装置の真空チャンバ内を、該真空チャンバの外部で活性化したガスを用いてクリーニングする、処理装置のクリーニング方法において、クリーニング時の前記真空チャンバ内の圧力を測定し、測定により得られた圧力データをモニタしてクリーニングの終点検出を行う、ことを特徴とする処理装置のクリーニング方法。
IPC (4):
H01L 21/31
, C23C 16/44
, C23F 4/00
, H01L 21/3065
FI (5):
H01L 21/31 C
, C23C 16/44 J
, C23F 4/00 E
, C23F 4/00 F
, H01L 21/302 E
F-Term (55):
4K030DA06
, 4K030JA01
, 4K030JA09
, 4K030JA20
, 4K030KA39
, 4K057DA01
, 4K057DA14
, 4K057DD01
, 4K057DD07
, 4K057DE20
, 4K057DG08
, 4K057DG13
, 4K057DJ01
, 4K057DJ02
, 4K057DJ06
, 4K057DJ07
, 4K057DJ08
, 4K057DM01
, 4K057DM09
, 4K057DM28
, 4K057DM37
, 4K057DN01
, 5F004AA15
, 5F004BA03
, 5F004BA04
, 5F004BA20
, 5F004BB11
, 5F004BB22
, 5F004BC02
, 5F004BD04
, 5F004CA09
, 5F004CB02
, 5F004CB15
, 5F004DA01
, 5F004DA02
, 5F004DA04
, 5F004DA11
, 5F004DA17
, 5F004DA18
, 5F004DA23
, 5F004DB00
, 5F004DB03
, 5F004DB07
, 5F045AC02
, 5F045BB15
, 5F045EB06
, 5F045EC03
, 5F045EE13
, 5F045EE14
, 5F045EH11
, 5F045EH18
, 5F045GB06
, 5F045GB07
, 5F045GB08
, 5F045GB09
Patent cited by the Patent: