Pat
J-GLOBAL ID：200903054218444502

画像処理装置及び三次元計測装置並びに画像処理装置用プログラム

Inventor：
橋詰 匠

About 橋詰 匠

, 
瀧口 純一

About 瀧口 純一


Applicant, Patent owner：
学校法人早稲田大学

About 学校法人早稲田大学

, 
三菱電機株式会社

About 三菱電機株式会社


Agent (1)： 榎本 英俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005052299
Publication number (International publication number)：2006234703
Application date： Feb. 28, 2005
Publication date： Sep. 07, 2006
Summary：
【課題】 屋外に存在する物体の三次元形状を精度良く自動的に特定可能にすること。【解決手段】 第1地点から第2地点に移動して前記各地点で画像をそれぞれ取得するカメラ装置11と、カメラ装置11の位置情報及び姿勢情報を検出するセンシング手段12と、センシング手段12で検出された位置情報及び姿勢情報から、前記各画像の中で相互に同一となる部分を特定する画像マッチング手段15とを備えて三次元計測装置10が構成されている。センシング手段12は、前記各画像を用いずに前記位置情報及び姿勢情報を検出可能なセンサによって構成される。画像マッチング手段15は、センシング手段12の検出値に基づいて、前記第2地点での画像におけるエピポーラ拘束線を求め、当該エピポーラ拘束線上の画像部分と前記第1地点の対象部分とを対比することで、各画像内の同一部分を特定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
第1地点から第2地点に移動可能に設けられ、前記各地点で画像をそれぞれ取得する撮像手段と、前記各画像を用いずに前記撮像手段の位置情報及び姿勢情報を検出するセンシング手段と、当該センシング手段で検出された位置情報及び姿勢情報から、前記各画像の中で相互に同一となる部分を特定する画像マッチング手段とを備え、 前記画像マッチング手段は、前記センシング手段の検出値に基づいて、前記第2地点での画像におけるエピポーラ拘束線を求め、当該エピポーラ拘束線上の画像部分と前記第1地点の対象部分とを対比することで、各画像内の同一部分を特定することを特徴とする画像処理装置。
IPC (4)：
G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G01C 11/00 ,  G06T 1/00
FI (4)：
G01B11/24 K ,  G01B11/00 H ,  G01C11/00 ,  G06T1/00 315
F-Term (22)：
2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065DD06 ,  2F065FF05 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065MM07 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR07 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CD14 ,  5B057CH08 ,  5B057DC08 ,  5B057DC33
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 3次元形状計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-303218   Applicant：日本電信電話株式会社
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM